반도체 공정
미세한 표면을 관찰하고, 공정의 작은 차이를 읽습니다.
전자와 소재의 다음 기준.
미세한 차이에서 시작하는 큰 변화.
미세한 표면을 관찰하고, 공정의 작은 차이를 읽습니다.
같은 좌표 위에서 광학 신호와 형상 변화를 비교합니다.
재료의 가능성을 반복 가능한 기술로 연결합니다.
광학 신호와 형상 변화를 같은 좌표 위에서 비교합니다.
조건을 바꿔도 같은 결과가 남는지 확인합니다.
연구실의 관찰을 현장에서 다시 쓸 수 있는 기준으로 정리합니다.